Rasterelektronenmikroskopie REM

Norm: GWP AV (3) Kategorie Tag

Im Rasterelektronenmikroskop wird die Oberfläche der Probe mit hoher Schärfentiefe dargestellt. Mit Hilfe einer Wolframkathode wird ein Elektronenstrahl erzeugt, welcher die Oberfläche einer Probe im Hochvakuum abrastert. Die dabei entstehenden Wechselwirkungsprodukte werden detektiert und liefern Bildinformationen über die Oberflächenbeschaffenheit. Mittels Sekundär- oder Rückstreuelektronen-Kontrast lassen sich verschiedene Darstellungsformen wählen. So sind Bewertungen von Bruchflächen oder Topographien von Kunststoffbauteilen sehr detailliert möglich.

Um ein Bild im REM auflösen zu können, muss die Probe leitfähig sein. Dies erfolgt bei Kunststoffproben duch Bedampfen mit einer hauchfeinen Gold- oder Graphitschicht. Zudem die Möglichkeit der Handhabung im Niedervakuum.

Das GWP- Kunststofflabor betreibt zwei Rasterelektronenmikroskope mit folgenden Anwendungsmöglichkeiten:

Bildgebung durch Sekundär- oder Rückstreuelektronen-Kontrast
Auflösung im 2stelligen nm-Bereich (50.000-fach)
Betrieb mit geringem Vakuum (1 bis 270 Pa) möglich (keine Bedampfung der Probe nötig)
EDX-Elementanalyse mit Silizium-Drift-Detektor
Große Probenkammer: Proben mit Durchmessern bis zu 200 mm, 70 mm Höhe und bis 2 kg Gewicht.

REM- Untersuchchungen finden bei der Analyse von Strukturanomalien und Schadstellen in Oberflächen sowie für Strukturuntersuchungen in Polymerblends oder Verbundwerkstoffen Anwendung.