Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird die Oberfläche der Probe mit hoher Schärfentiefe dargestellt. Beim Rasterelektronenmikroskop wird mit Hilfe einer Wolframkathode wird ein Elektronenstrahl erzeugt, welcher die Oberfläche einer Probe im Hochvakuum abrastert. Die dabei entstehenden Wechselwirkungsprodukte werden detektiert und liefern Bildinformationen über die Oberflächenbeschaffenheit. Mittels Sekundär- oder Rückstreuelektronen-Kontrast lassen sich verschiedene Darstellungsformen wählen. So sind Bewertungen von Bruchflächen oder Topographien von Kunststoffbauteilen sehr detailliert möglich.
Um ein Bild im REM auflösen zu können, muss die Probe leitfähig sein. Dies erfolgt bei Kunststoffproben duch Bedampfen mit einer hauchfeinen Gold- oder Graphitschicht. Zudem die Möglichkeit der Handhabung im Niedervakuum.
Das GWP- Kunststofflabor bietet die Rasterelektronenmikroskopie mit folgenden Anwendungsmöglichkeiten:
Bildgebung durch Sekundär- oder Rückstreuelektronen-Kontrast
Auflösung im 2stelligen nm-Bereich (50.000-fach)
Betrieb mit geringem Vakuum (1 bis 270 Pa) möglich (keine Bedampfung der Probe nötig)
EDX-Elementanalyse mit Silizium-Drift-Detektor
Große Probenkammer: Proben mit Durchmessern bis zu 200 mm, 70 mm Höhe und bis 2 kg Gewicht.
Unsere Geräteausstattung
Durch die Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit der Probe werden Sekundärelektronen freigesetzt. Diese werden durch eine Saugspannung in einen Detektor gelenkt und ergeben das Signal. So enstehet durch Abschattungseffekte ein Topographiekontrast der das Bild erzeugt. Diese Bilddarstellung wird überwiegend für die Dokumentation und Bewertung von Oberflächenstrukturen wie z.B. Bruchflächen, Korrosionsangriffe, Oberflächegüten, usw. verwendet.
Bei diesem Detektor wird das bildgebende Signal durch abgebremste und abgelenkte Primärelektronen erzeugt. Die Energie der Rückstreuelektronen ist abhängig von der Dichte des Probenmaterials. Somit kann ein Materialkontrast erzeugt werden mit dem z.B. Verunreinigungen, Schichtsysteme oder Einschlüsse dargestellt werden können.
Bei der Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit dem Probenmaterial entsteht eine charakteristische Röntgenstrahlung mit der die chemische Zusammensetzung qualitativ sowie semiquantitativ bestimmt werden kann. Für die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung werden überwiegend Punkt- und integrale Analysen verwendet. Durch das Abrastern der Probe mit dem Elektronenstrahl können aber auch Linescans und Mappings in Falschfarbendarstellung realisiert werden. Die Mappings sind besonders interessant, da Sie sehr anschaulich vorliegende die Unterschiede in der Zusammensetzung in Zusammenhang mit der Struktur darstellen.
Die REM-Bilder geben Ihre Informationen in Graustufen wieder. Um bestimmte Merkmale auf dem Bild hervorzuheben steht uns eine professionelle Bildverarbeitung zur Verfügung. Hierbei werden die aufgenommen Bilder nachträglich koloriert um das Augenmerk auf ein bestimmtes Detail zu lenken und mit einem Bild möglichst viele Infor
REM- Untersuchchungen finden bei der Analyse von Strukturanomalien und Schadstellen in Oberflächen sowie für Strukturuntersuchungen in Polymerblends oder Verbundwerkstoffen Anwendung.
Weitere Infors zur GWP REM-Untersuchungen finden Sie unter https://gwp.eu/menue/labor-services/mikroskopie/elektronenmikroskopie
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